220113, Республика Беларусь, г.Минск
ул.Мележа, д.1а, офис 115
тел./факс (+375 17) 335-04-35, 268-07-04
(+375 17) 335-07-35, 268-07-05 
(+375 17) 335-08-35
e-mail: info@ndt.by

Каталог

Свернуть меню
Баннер
Баннер
Баннер
Баннер
Системы цифровой радиографии 21 века для неразрушающего контроля
26.08.2011 09:06

RayzorXPro и FlashXPro портативная система для рентгеновской дефектоскопии


Впервые в Беларуси - уникальная портативная система для рентгеновской дефектоскопии.

Подробнее...
 
MEIJI TECHNO.
20.05.2011 12:31

MEIJI TECHNO. Новые решения для промышленной микроскопии

Meiji Techno занимает третье место среди производителей оптических микроскопов в Японии. В 1964 году для производства микроскопов была основана компания Azuma Optics, которая быстро завоевала хорошую репутацию благодаря высокому качеству и быстрым сро¬кам поставки продукции. В 1975 году компания была преобразована в Meiji Techno, которая начала предлагать на рынке микроскопы под одноименной маркой.
Начав как производитель учебных микроскопов, компания Meiji Techno расширила ассортимент продукции до микроскопов, предназначенных для технологических работ и лабораторных исследований в медико-биологических и технических направлениях, включая образование. Продукция продается по всему миру - в Европе, Азии, Африке и Америке агентами или дистрибьюторами авторизованными компанией Meiji Techno.
За многие годы фирма Meiji Techno организовала представительства в разных частях мира (Америка, Великобритания, Европа, Россия и СНГ), а также построила широкую дилерскую сеть, которая объединяет высококвалифицированных специалистов, обладающих знанием и опытом во многих областях науки и техники. Высокое качество своей продукции компания MEIJI TECHNO подтверждает предоставляя 5-летнее гарантийное обслуживание.
На белорусском рынке промышленные решения Meiji Techno представляет компания «ООО НДТ Инжиниринг». Рассмотрим основные направления.

Металлографические микроскопы
Последние десять лет все больше наших отечественных предприятий ориентируются в сбыте своей продукции на европейский рынок. И в первую очередь это касается предприятий металлургической промышленности и машиностроения. Высокое качество выпускаемой продукции, соответствие отечественным и международным стандартам является определяющим факторов увеличения объема экспорта и развития промышленности. Поэтому контроль материалов и металлопродукции является важным звеном в производственном цикле и определяющим фак¬тором в развитии производства и экономики в целом.
При проведении многих исследований и контроле готовой продукции применяют анализ макро- и микроструктуры металлов и сплавов. Такие исследования проводят в металлографических лабораториях с использованием металлографических микроскопов.
Международные стандарты предъявляют новые требования к оптико-механическим приборам металлографических лабораторий, которые должны обеспечить качество продукции мирового уровня. Устаревшее оборудование, даже оставаясь в рабочем состоянии, уже не в состоянии удовлетворять следования и анализа микроструктуры материалов.
К сожалению, в настоящее время наблюдается некоторое несоответствие стандартам в комплектации отечественных заводских и исследовательских ла¬бораторий. Поэтому задача комплектации металлографических лабораторий современными оптико-механическими приборами и оборудованием для подго¬товки проб является актуальной и требует от специалистов и руководителей знания рынка микроскопов и станков по подготовке качественных шлифов.
За свои 150 лет существования серийное производство микроскопов пережило пять поколений. Основные признаки пятого поколения:
•    Микроскопы рассчитаны на длину тубуса «бесконечность»
•    Оптическая система подчиняется законам волновой и геометрической оптики
•    Хроматическая разность увеличения равняется 0%
•    Основные оптические параметры соответствуют параметрическому ряду стандарта ICO 9001:
•    Увеличение объективов для металлографии 5х - 10х - 20х - 50х - 100х
•    Увеличение окуляров 10х - 15х -20х
•    Высота объективов 45 мм
В настоящее время жёсткие требования предъявляются в первую очередь к конструкции микроскопа и оптической системе. Конструкция микроскопа должна обеспечивать точное прохождение световых лучей через микроскоп. Только в та ком случае становится возможным получить яркое изображение объекта даже при использовании ламп низкой мощности. Устойчивая модульная кон¬струкция микроскопов МТ7000, МТ7500 и IM7000 позволяет проводить каче¬ственную настройку освещения объектива в соответствии с требованиями реализации принципа Келлера, что дает возможность получать равномерно освещенные изображения. Большое разнообразие объективов микроскопов MEIJI TECHNO показывает разнообразие возможностей, открываемое микроскопией. Двумя основными критериями классификации объективов являются устранение цветовых искажений и выравнивание промежуточного изображения. В идеальном случае получают изображение с правильным цветовоспроизведением и резкостью вплоть до самого края, даже в случае больших полей зрения. Все объективы микроскопов MEIJI TECHNO относятся к серии ICOS (Infinity Corrected Optical System). Эти объективы проецируются на «бесконечность», и лишь тубусная линза создает полностью промежуточное изображение. Фильтры, рефлекторы, плоскопараллельные компоненты могут использоваться без дополнительных оптических элементов. Классические микроскопы с «конечной оптикой» требуют значительного улучшения окуляров, так называемые «скомпенсированные окуляры».
Объективы отраженного света, которые используются в металлографических микроскопах, рассчитаны на работу без покровных стекол и имеют просветляющее покрытие для предотвращения рефлексов. Компания MEIJI TECHNO обладает ноу-хау на просветляющие и поляризационные покрытия, а также на технологию изготовления элементов, входящих в конструкцию металлографических микроскопов. Основанные на ICOS оптике, эти объективы предлагают наивысшее качество, возможное в микроскопии материалов. Их большое рабочее расстояние и высо¬кая численная апертура идеальны для соответствующей контрастной технологии, такой как светлое поле, темное поле и поляризация. Высокий контраст делает эти объективы совершенными для получения точных изображений и их последующего анализа.
Встроенная осветительная система и стабилизированный блок питания для различных типов ламп, коаксиальная система фокусировочного механизма и препаратоводителя, 5 гнездные устройства для крепления объективов, работающих по методу светлого/темного поля, поляризации обеспечивают микроскопам MEIJI TECHNO значительные позиции на мировом рынке.

Микроскопы отраженного света -идеальны для проведения следующего анализа микроструктур непрозрачных объектов:
•    Определение величины и расположения зерен металла.
•    Измерение размеров и подсчета количества мелких фаз в металле.
•    Контроль состояния поверхностного слоя изделия.
•    Выявление микродефектов (трещины, раковины).
•    Выявление некоторых дефектов кристаллического строения.

Для каждого вида работ в мировой практике предусмотрены свои конструкции микроскопов. MEIJI TECHNO предлагает широкий модельный ряд металлографических микроскопов, что позволяет приобретать микроскоп не перегруженный ненужными опциями и создать оптимальную комплектацию того что необходимо для конкретных исследований.


Серия МТ7000

Универсальные, модульные, эргономичные металлургические микроскопы отраженного света для исследования в светлом поле и поляризованном свете Микроскопы серии МТ7000 имеют прочный корпус с низкорасположенными коаксиальными рукоятками грубой/точной фокусировки, эргономичный столик для максимальной эффективности и удобства работы, а также чрезвычайно устойчивое основание.

Серия МТ7000 предлагает широкий набор возможностей и отличные оптические характеристики, благодаря высококачественной оптической системе MEIJI TECHNO Planachromat Epi ICOS™ (скорректированной «на бесконечность»). Новая оптика обеспечивает исключительно яркое, четкое изображение с хорошей цветопередачей и сверхплоским полем зрения. Благодаря модульному дизайну можно с легкостью добавлять к микроскопу различные принадлежности, включая видеокамеры CCD/CMOS и 35 мм фотокамеры.

 

 

Серия МТ7500

Микроскопы МТ7500 предназначены для исследований в падающем свете в светлопольном или темнопольном режиме освещения и поляризованном свете
 
Серия МТ8000
Микроскопы новой серии МТ8000 предназначены для множества различных областей применения, поскольку они работают в проходящем и падающем свете в светлом поле и поляризованном свете.
 
Серия МТ8500
Серия МТ8500 имеет такую же систему освещения проходящего/падающего света, как серия МТ8000, но включает более мощный 50Вт осветитель падающего света. Микроскопы этой серии работают в светлопольном и темнопольном режиме, что позволяет использовать эти микроскопы не только для рутинных исследований, но и для научных изысканий.

Серия IM7000
Инвертированные металлургические микроскопы MEIJI TECHNO серии IM7000 с утонченным дизайном экономят место на вашем столе и при этом чрезвычайно устойчивы. Эргономичное расположение всех регуляторов IM7000 исключает усталость оператора при длительной работе с микроскопом. Интегрированный вертикальный галогеновый осветитель 6В 30Вт по Келеру Источник питания с автоматическим определением напряжения и регулятором яркости встроен в основание микроскопа. Микроскопы серии IM7000 предназначены для решения широкого круга рутинных задач. Они отлично подходят для исследования металлографических шлифов и для рутинного контроля качества, например, для анализа микроструктур, тестирования различных материалов и микрофотографии. Серия IM7000 имеет отличные оптические характеристики, благодаря высококачественной оптической системе MEIJI TECHNO Planachromat Epi ICOS™ (скорректированной «на бесконечность»). Новая оптика обеспечивает исключительно яркое, четкое изображение с хорошей цветопередачей и сверхплоским полем зрения. Встроенный фотовыход на передней панели обеспечивает простоту и удобство документации изображений. Методы работы включают светлое поле и поляризацию.
Пропускание, однородность и коррекция - весь спектр оптики приспособлен для требований изучения материалов. Результатом является точность воспроизведения вашего объекта.

Серия IM7500
Инвертированные микроскопы серии IM7500 наследуют все преимущества микроскопов IM7000. Но имеют более совершенные оптические элементы и техническую реализацию исследований в тёмном поле.
Метод темного поля расширяет возможности рабочего микроскопа до исследовательских задач, позволяя лучше выявлять различные дефекты поверхности. Метод поляризации используется в сочетании с окрашивающим травлением для выявления структурных составляющих, а также для определения некоторых видов неметаллических включений, например силикатов.
Серия IM7500 – идеальное решение для исследовательских лабораторий ВУЗов, научных центров и крупных заводских лабораторий.

Качество металлографических микроскопов MEIJI TECHNO по светопропусканию, разрешающей способности, точности воспроизведения объекта и его элементов в изображении, точной цветопередачи, надежности делает эти микроскопы приоритетными при использовании их в перспективных исследовательских разработках и работах рутинного характера на уровне мировых стандартов.


 
Стереомикроскопы
Компания MEIJI TECHNO является одним из лидеров в производстве стереомикроскопов. Такого разнообразия возможностей и конструкций не предлагает ни один из прочих производителей. MEIJI TECHNO производит 2 основные серии стереомикроскопов: ЕМ и RZ. Серия ЕМ это микроскопы построенные по схеме Грену. Серия RZ - микроскопы основанные на схеме Аббе.

Серия ЕМ
Ни одна другая линия стереомикроскопов не может сравниться с сочетанием превосходной оптики, прочности и надежности, выгодной цены и широкого выбора аксессуаров, характеризующими стереомихроскопы MEIJI серии ЕМ. Основными преимуществами этой серии являются:

Модульность
Стереомикроскопы серии ЕМ специально изготовлены для удовлетворения требований всех без исключения покупателей. Модульный дизайн позволяет пользователю создать собственный вариант микроскопа практически для любой цели, выбрав компоненты из широчайшего ассортимента стереонасадок, штативов, окуляров, дополнительных линз, осветителей и принадлежностей, предлагаемых сегодня на рынке микроскопов.
MEIJI TECHNO предлагает более 30 видов оптических блоков и более 40 видов различных станин. С учетом дополнительных компонентов (окуляров, линз, столиков и осветителей) возможно собрать более 200 вариантов комплектации с рабочими увеличениями от 2х до 420х.
 
Превосходная оптика
Оптические компоненты с многослойным покрытием, без цветовой и сферической аберраций, обеспечивают кристально четкое изображение с высоким разрешением. Благодаря оптике Грену микроскопы предоставляют превосходное прямое неперевернутое стереоскопическое изображение с высоким контрастом, яркостью и правильной передачей цвета. Серия микроскопов ЕМ также характеризуется большой глубиной резкости и четкой передачей изображения.

Повышенная прочность и надежность
Металлический корпус микроскопа из сплава алюминия и компоненты с защитным покрытием, устойчивым к химикатам, гарантируют прочность и надежность при ежедневном использовании. Великолепная техника изготовления, качественные компоненты и материалы обеспечивают долговечность и высокую функциональность продукции.

Эргономичный дизайн
Все стереомикроскопы серии ЕМ компактны и имеют небольшой вес. Для каждой оптической насадки стереомикроскопа предусмотрены тубусы с диоптрийной настройкой и регулируемым межзрачковым расстоянием. Тубусы установлены под наклоном 45°, 60° или 90° (в зависимости от области при¬менения) для удобной, не вызывающей усталости работы с микроскопом. Для установки корпуса микроскопа на оборудование других производителей доступен большой выбор фиксированных или наклоняемых блоков фокусировки.
Широкий ассортимент таких компонентов, как револьверная, фиксированная системы увеличения или система с плавным увеличением (ZOOM) с различными рабочими расстояниями, дополнительные вспомогательные объективы и окуляры, множество регулируемых штативов, гибкие осветители и другие принадлежности позволяет конечному пользователю создать собственную систему для решения конкретных задач.


 
Применение
Стереомикроскопы серии ЕМ - великолепные модульные микроскопические системы, подходящие для множества разных областей применения, начиная с биологии и промышленности и заканчивая образованием. Приборы серии ЕМ успешно используют люди самых разных профессий: биологи, врачи, геологи, инженеры, стоматологи, ветеринары, палеонтологи, энтомологи, ювелиры, преподаватели, ученые-исследователи, специалисты по контролю качества, судебные эксперты, специалисты по сборке, эксперты по реставрации, специалисты текстильной промышленности, производители проволоки, специалисты по охране окружающей среды, офтальмологи, дерматологи, метрологи, профессионалы в области изготовления инструментов и штампов, специалисты по ремонту плат, профессионалы в области аквакультуры, специалисты по экстра¬корпоральному оплодотворению, экс¬перты в области садоводства, дезинсекторы, инспекторы службы охраны водоемов и диких животных, представители таможенной службы, производители полупроводников, лесничие, производители фармацевтической продукции, специалисты по гальванопластике, эксперты по баллистике и т.д.







Серия RZ
Высококачественные модульные стереомикроскопы MEIJI TECHNO серии RZ специально разработаны с учетом сложных требований современной микроскопии.
Стереомикроскопы серии RZ имеют общий основной объектив СМО (Common Main Objective). Благодаря общему основному объективу и параллельным оптическим путям, стереомикроскопы серии RZ предоставляют четкое изображение с высоким разрешением и без искажения при увеличении от 3.75х до 450х. Вы можете выбрать оптические компоненты, фото/видео принадлежности и различные штативы, что позволяет собрать систему, удовлетворяющую Вашим требованиям.
Стереомикроскопы серии RZ характеризуются кратностью трансфокатора 10:1 (0.75х - 7.5х), двумя встроенными регулируемыми ирисовыми диафрагмами с механизмом фиксации увеличения в 12 положениях на всем диапазоне увеличения. Плавное движение двух параллельных колонн из восьми увеличительных линз в четырех группах регулируется поворотом эргономично расположенных рукояток изменения увеличения (ZOOM).
Внешние компоненты имеют специальное антистатическое покрытие, которое особенно полезно при работе с чувствительными электронным ком¬понентами. На микроскоп устанавливается два типа бинокулярных головок. Эргономичная насадка имеет низко расположенные окулярные трубки с регулируемым наклоном от 10° до 50° и межзрачковым расстоянием от 52 мм до 75 мм для удобной, не вызывающей усталости работы. Стандартная экономичная бинокулярная насадка имеет наклон 40° с регулируемым межзрачковым расстоянием от 46 мм до 75 мм.
Для измерения и микрофотографии предусмотрены сверхширокопольные окуляры с различным увеличением с диоптрийной настройкой и с держателем шкалы. Коаксиальный механизм грубой и точной фокусировки обеспечивает абсолютно точную и плавную фокусировку в диапазоне 50 мм.
MEIJI TECHNO для серии RZ предлагает широкий выбор дополнительных принадлежностей, включая эргономичную бинокулярную насадку, коаксиальный вертикальный осветитель, адаптер TV камеры, блок для рисования, множество сменных объективов и широкопольных окуляров, поляризационные фильтры, светлопольный штатив проходящего света, светлопольный/темнопольный штатив проходящего света, системы для микрофотографии и другие компоненты, обеспечивающие полную гибкость системы.
Конструкция серии RZ по схеме Аббе представляет собой два параллельных оптических пути, которые проходят через общий основной объектив. Та¬кая инфинитивная система позволяет менять и устанавливать промежуточ¬ные оптические компоненты, включая светоделитель, коаксиальный осветитель, блок для рисования, видео- или фотоблок.
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Моторизованные решения в промышленной микроскопии

Бурное развитие полупроводниковых и компьютерных технологий во всех областях в последнее время дало также мощный толчок развитию автоматизации микроскопических исследований.
Раньше все процедуры подготовки и исследования микроскопического препарата выполнялись полностью вручную, что при большом количестве препаратов превращалось в рутинную и утомительную работу, с трудно воспроизводимыми условиями и соответственно плохой стандартизацией. Современным решением этих проблем явилось создание моторизованных вариантов основных блоков микроскопа:
во-первых, предметных столиков, которые обеспечивают перемещение исследуемого препарата в горизонтальной плоскости,
во-вторых, автоматизированного фокусировочного механизма — устройства для вращения микровинта — для настройки фокуса.
Эти блоки могут управляться с помощью специальных программ и, если необходимо, в автоматическом режиме без непосредственного участия оператора. Также при необходимости возможно ручное управление с помощью манипулятора, который обычно выполняется в виде джойстика или трек-болла.
Моторизованные предметные столики обеспечивают быстроту и точность перемещения препарата, недостижимую при ручном перемещении. Например, столики которыми комплектуются микроскопы Meiji Techno Co. Ltd. обеспечивают скорость перемещения препарата до 12 см/с с точностью 3–5 мкм, разрешением 0,05–0,1 мкм и отклонением от прямой линии не более 20’.
Для полной автоматизации процесса микроскопирования кроме моторизованного столика необходима также автоматическая настройка фокуса, т.е. перемещение столика по вертикальной оси (ось Z).
Хотелось бы отметить ряд ключевых моментов, характерных для моторизации:
•    Моторизованный микроскоп позволяет превращает повседневную рутинную работу в стандартизированный и увлекательный процесс.
•    Моторизованный микроскоп может управляться как с помощью специального ПО, так и ручными манипуляторами.
•    В случае использования микроскопов Meiji Techno возможно моторизовать уже имеющийся в наличии микроскоп без вмешательства в конструкцию,с сохранением всех условий гарантии.
•    Моторизация может быть проведена в ближайшем сервисном центре без необходимости отправки оборудования на завод изготовитель. 
Развитие цифровых технологий открывает новые возможности работы с изображениями, полученными с помощью микроскопа. Уже само по себе использование цифровых камер и простейшего программного обеспечения позволяет организовать обмен данными микроскопических исследований, организовать хранение полученных изображений, обеспечить их объективную оценку.
До недавнего времени результатом микроскопического исследования как правило становилось субъективное заключение специалиста. Проблема получения документа в микроскопии до сих пор существует во многих лабораториях. Единственный способ разрешения этой проблемы — это использование видео/фото камер.
Помимо получения снимка микроскопического исследования также стоит задача стандартизации процедуры исследования и обработки полученных изображений, определения диагностически значимых критериев, снижение зависимости конечного результата от субъективных факторов.
Использование моторизации и программного обеспечения в микроскопии позволяет в значительной мере решить описанные выше проблемы.
Моторизованный микроскоп — это в первую очередь полное изменение стиля работы. Однако по настоящему все возможности моторизации раскрываются с использованием специального ПО.
Для исследователей автоматизированная микроскопическая система позволяет снизить долю рутинных трудоемких операций и уделить больше времени собственно анализу полученных данных и решению поставленной задачи. Можно поручить системе просканировать и измерить определенные параметры исследуемого объекта. Такие морфометрические измерения и статистическая их обработка позволят затем создать алгоритм распознавания определенных элементов. Также этот подход позволяет устранить или существенно снизить субъективность оценки микроскопических препаратов.

В заключении следует отметить, что мы рассмотрели только основные на¬правления микроскопов MEIJI TECHNO. Помимо этого у компании существуют серии поляризационных микроскопов различного класса и возможностей, специализированные серии для исследования волокон асбеста, геммологические микроскопы, инспекционные системы для контроля микроэлектроники и прочие узко-специализированные решения.
Вне зависимости от того, где Вы находитесь и каковы Ваши требования, продукция компании Meiji Techno и профессионализм наших специалистов помогут Вам достичь ваших целей в области микроскопических методов ис¬следования.

 
 

 

 
Система USM Vision
20.05.2011 10:16

Комплексное решение для инспекции сварных швов, повышающее производительность при изготовлении новых систем технологических трубопроводов.

Система USM Vision от GE Inspection Technologies — это оптимальное распределение задач инспекции, простота в эксплуатации и устранение ограничений, связанных с радиографией. 

Введение

Система USM Vision разрабатывалась для удовлетворения потребностей рынка в переходе от радиографического к ультразвуковому контролю при изготовлении новых систем технологических трубопроводов, применяемых в системах водоснабжения, в энергетике, а также в нефтегазовой и обрабатывающей промышленности. Долгое время предпочтительным методом контроля сварных швов в сварочных цехах являлась традиционная пленочная радиография, и этот метод дает превосходные результаты, которые легко интерпретируются.
Однако применение пленочной радиографии накладывает начительные ограничения в отношении безопасности, утилизации отходов, времени обработки, хранения химикатов и архивирования плёнок.

Несмотря на то что метод ультразвукового контроля не всегда может быть использован вместо радиографического, он свободен от всех приведенных ограничений и позволяет
быстро получить точные, надежные, соответствующие нормам анные. Как правило, для проведения подобного контроля необходим квалифицированный специалист. Найти высококвалифицированных специалистов — задача не из легких.

USM Vision — эффективное решение для управления распределением задач

Система USM Vision — это экономически выгодное и привлекательное решение этой проблемы. Возможность использовать ультразвук при контроле сварных швов на трубопроводах снимает ограничения, накладываемые леночной радиографией, а также позволяет разделять задачи инспекции между сотрудниками, не являющимися специалистами в области ультразвуковой дефектоскопии (например, дефектоскописты в области радиографии, прошедшие начальное обучение по ультразвуковому контролю) и высококвалифицированными экспертами, что обеспечивает птимальное использование труда специалистов неразрушающего контроля всех уровней. Гораздо эффективнее использовать труд высококвалифицированных специалистов ам, где он может принести наибольшую пользу: проверка параметров настройки, анализ данных, контроль за работой операторов оборудования УЗК, составляющих планы контроля, существляющих настройку, калибровку и сбор данных по месту. И все это не только без ущерба для точности и надежности данных, но и с существенным ростом производительности.

Область применения
Система USM Vision призвана упростить ультразвуковую дефектоскопию, повысить ее доступность и обеспечить соответствие международным нормам и стандартам. Все это становится возможным благодаря следующим факторам:
• Оптимизация распределения нагрузки специалистов при проведении
инспекций
• Повышение производительности
• Устранение ограничений, существующих при радиографическом контроле
сварных швов
• Упрощение ультразвукого контроля сварных швов
Система USM Vision специально предназначена для следующих целей:
• Инспекции при строительстве объектов энергетической промышленности
• Технический контроль перед вводом в эксплуатацию
• Инспекции труб из углеродистой стали
• Инспекции труб диаметром 73–1219 мм (2,875–48 дюймов)
• Инспекции труб толщиной 6–50 мм (1/4–2 дюйма) при автоматической
настройке; диапазон может быть расширен при ручной настройке
• Инспекции кольцевых сварных швов
• Инспекции при одностороннем или двухстороннем доступе в зависимости от
геометрических ограничений
• Предполагается обеспечить возможность проведения инспекций других типов
сварных швов
 

Создание плана инспекции
Проверка плана инспекции
Для создания и заполнения плана инспекции специальных знаний в области ультразвукового контроля не требуется. Нужно просто описать задачу контроля и указать исходную информацию, например местоположение, количество сварных вов, размер трубы, толщина и материал, подготовка сварного стыка, процедура и метод, которые требуется использовать. Затем программное обеспечение рассчитает и создаст набор астроек для ультразвукового контроля, необходимых для проведения инспекции указанных сварных швов методом TOFD и/или фазированной решетки. Эти настройки включают в себя: 

• выбор правильных датчиков и призм из базы данных;

• позиционирование датчиков;

• определение необходимых параметров ультразвукового контроля для эффективного проведения инспекции в соответствии со стандартами и с выбранной процедурой.

Затем квалифицированный технический специалист по УЗК утверждает созданные настройки. Для каждого шва задается количество проходов (один или несколько) для контроля методом TOFD или фазированных решеток. Специалисты по льтразвуковому контролю должны проверить проходы с помощью инструмента для построения траектории лучей. Они могут также изменить схему проходов, выбрав другой датчик из базы данных и корректируя положения датчика (датчиков). Когда все проходы проверены, инспекционный план можно экспортировать в устройство сбора данных.

Калибровка
Сбор данных
Поскольку процесс сбора данных на 100% определен планом, для выполнения этой задачи не требуется оператор, знакомый с УЗК. Технический специалист просто выбирает инспекционный
план, а затем проходит процесс шаг за шагом, проверяя датчики  призмы, производя калибровку ультразвуковых параметров (калибровку PCS и чувствительности для TOFD, проверку призмы, запись кривой АРК/ВРЧ для фазированной решетки), настраивая и калибруя сканер. Сбор данных для каждого сварного шва осуществляется в соответствии с соответствующим планом контроля, а различные проходы с применением метода TOFD и метода фазированных решеток рассчитываются в IPC. После каждого прохода программное обеспечение будет предлагать перейти к следующему сварному шву или выполнить следующий проход, подсказывая оператору наиболее эффективный путь выполнения инспекционного плана. Во время контроля можно в любой момент экспортировать данные для анализа и составления отчетов по одному проходу, одному сварному шву или по всей инспекции.

Анализ данных
Все данные инспекции соединяются для проведения анализа в программной платформе Rhythm. Здесь инспектор, имеющий соответствующую квалификацию, может просмотреть и проанализировать данные с помощью современных средств анализа, например объемных поправок изображения, корректируемого в реальном времени, а также цифровых инструментов для анализа, повышения качества и измерения изображений. Кроме того, программное обеспечение для анализа содержит множество средств для измерения и просмотра.

Отчеты
Можно сразу же получить экспертную интерпретацию результатов инспекции; отчеты могут печататься в режиме реального времени. Это позволяет очень быстро оценить состояние сварного шва и спользовать информацию для ремонта сварных швов.

Архивация данных инспекции
Данные инспекции сохраняются в программе Rhythm Archive, позволяющей сохранять исходные данные с необходимыми тегами. Ввод и получение информации осуществляется быстро
и легко. Данные могут поступать от любого числа удаленных  рабочих станций Rhythm Review, подключенных по локальной сети, и сохраняться с помощью различных методов сжатия для
экономии памяти без потери качества данных обмен данными инспекции. Данными инспекций можно обмениваться с другими заинтересованными сторонами и предоставлять их как в виде
изображений улучшенного качества, так и в виде исходных данных. Эти данные можно передать на другие станции Rhythm Review для проверки третьей стороной. Обмен данными можно
существенно расширить с помощью программы Rhythm Enterprise Web, которая предоставляет функции сети Интернет, обеспечивающие оптимальную доставку изображений и отчетов всем пользователям, независимо от вида их подключения, с помощью интернет-браузера на стандартном ПК. Превратить информацию в знание и обмениваться данными контроля между экспертами, находящимися в разных местах, теперь просто!

Система USM Vision — комплексное решение для инспекции сварных швов
Система USM Vision — это комплексное решение для инспекции сварных швов, включающее:
• Программное обеспечение IPC для составления планов инспекции и автоматического создания настроек для ультразвукового контроля. В систему интегрирована база данных процедур, основанных на международных нормах и стандартах, и возможность построения траектории лучей для проверки параметров ультразвукового контроля.
• Переносной дефектоскоп USM Vision обладает следующими функциями:
• Традиционный канал, TOFD, фазированная решетка 16/64, объемная коррекция изображений в реальном времени,  сохранение A-сканов
• Уникальный пользовательский интерфейс с управлением курсором при помощи двух устройств трекбол-мышь.
• Удобство эксплуатации для операторов, не проходивших специального обучения.
• Цветной сенсорный экран с диагональю 26,5 см (10,4 дюйма) с разрешением 1024 x 768
• Вес — всего 4 кг (8,8 фунтов)
• Возможность “горячей” замены аккумулятора во время работы для бесперебойной эксплуатации
• Прочный резиновый корпус, IP 54
• Размеры:
   длина в верхней части: 367 см (144,4 дюйма);
   длина в нижней части: 310 см (122 дюйма);
   ширина: 250 см (98,4 дюйма);
   высота: изменяется от 60 до 100 см (от 23,6 до 39,3 дюймов).
• Современные интерфейсы для подключения к ПК, включающие USB, Ethernet, беспроводное подключение (WiFi)
• Возможность с помощью системы USM Vision управлять ПО IPC и ПО для анализа.
• Кейс для транспортировки
• Датчик-сканер, разработанный для сбора данных с помощью датчиков TOFD и фазированной решетки,
основные компоненты которого приведены ниже.
• Ручная тележка с магнитными колесами.
• Цепь для инспекции трубопроводов (дополнительно).
• Кронштейн с датчиком и державками для указателя осевой линии, вилки для призм датчиков TOFD и фазированных решеток.
• Кейс для транспортировки
• Набор датчиков и призм, соответствующих определенному диапазону труб и нормам.
• Программное обеспечение Rhythm Review 4.0 для анализа и составления отчетов.
• Дополнительные модули ПО Rhythm, содержащие функции архивации, обмена данными и расширенные функции для создания отчетов.

 
Цифровые технологии в радиационном контроле
20.05.2011 08:43

 

 

Введение
В течение более 100 лет, прошедших после открытия рентгеновских лучей, их применение для неразрушающего контроля основывалось на использовании рентгеновской пленки и специальных пленочных систем (промышленная радиография) и позднее – на использовании рентгенооптических преобразователей (промышленная радиоскопия).
Подробнее...
 
Выявление, идентификация и измерение размеров плоскостных дефектов с применением технологии TOFD в ручных дефектоскопах
20.05.2011 08:18

 

 

Проблема выявления, идентификации и измерения размеров плоскостных дефектов, в первую очередь трещин в  различных деталях и изделиях, является одной из наиболее актуальных для неразрушающего контроля. Эта проблема еще больше усложняется в том случае, когда проведение контроля возможно только с одной из поверхностей детали (например, при эксплуатационном контроле различных трубопроводов, сосудов, корпусного оборудования с ограниченным доступом к внутренней поверхности) с целью выявления трещин, расположенных в районе противоположной (внутренней) поверхности, как в основном металле, так и в сварных швах.   

Одним из наиболее характерных примеров таких деталей являются гнутые элементы труб (гибы, отводы) трубопроводов ТЭС и АЭС, работающие при высокой температуре и под внутренним давлением, т. е. в условиях высоких знакопеременных напряжений. По этой причине гибы склонны к разрушениям и надежный контроль за их состоянием – основное  средство обеспечения надежности и безопасности эксплуатации оборудования. Зоны повреждения гибов, работающих в водной среде -  внутренняя поверхность преимущественно в зоне нейтралей,  работающих при высокой температуре – растянутая зона. Наиболее эффективно контроль этих зон осуществляется ультразвуковым методом НК.
В 1965-1970г.г. был разработан ряд нормативных документов, в которых рассматривался вопрос контроля гибов различных толщин и диаметров. Одной из первых в 1970г. начала применяться инструкция  по контролю гибов толщиной 7-12 мм из перлитной стали,  предусматривающая применение  пьезоэлектрических преобразователей (ПЭП) с рабочей поверхностью, притертой под наружный диаметр трубы. Однако критерии ориентации ПЭП по углу ввода в этой инструкции отсутствовали, из-за чего не обеспечивалось надежное выявление трещин в гибах: имелись повреждения гибов после проведения контроля.
 В 1978 году начались работы над новой инструкцией по контролю гибов, которая была введена в действие в 1981 г. как широко известная и действующая до сих пор И №23 СД-80
(РД 34.17.418). В этой инструкции впервые были сформулированы требования к метрологическому обеспечению ультразвукового контроля (УЗК) гибов: нормированы требования к преобразователям, образцам и приведены нормированные комплексные характеристики акустического тракта, даны расчеты углов призмы преобразователей для обеспечения требуемого угла встречи с дефектом. При опробовании методики на реальных гибах она показала более высокую достоверность в сравнении с другими разработанными на то время методиками в части выявления трещин на внутренней поверхности гибов. Методика  построена на применении схемы прозвучивания, обеспечивающей угол встречи 450 с дефектом типа трещины, расположенном на внутренней поверхности гиба.     Контроль по схеме с углом встречи 450 предусматривался для гибов с отношением толщины стенки к наружному диаметру до 0,17. В связи с этим в 1987 г. было выпущено изменение к И №23 СД-80, предписывающее УЗК гибов труб с отношением толщины стенки к наружному диаметру более 0,17. При этом угол встречи луча с дефектом должен быть 900.  Однако при практическом контроле в соответствии с этим изменением имели место пропуски дефектов,  а также перебраковки, поэтому в вышедшем в 1985 г. «Положении об оценке ресурса, порядке контроля и замены гибов» РД 34.17.417 предусматривалась процедура корректировки чувствительности УЗК. В 1985 г. также вышел и начал применяться на котельных заводах для входного котроля труб ОСТ 108.885.01, регламентирующий в том числе методику УЗК  труб, который был разработан с учетом требований  ГОСТ 17410 и инструкции И №23 СД-80 . Приемы контроля, предусмотренные в ОСТ 108.885.01, позволяли в гибах и трубах выявлять технологические дефекты трубного производства, прежде всего – закаты за счет применения нормальных преобразователей.
В 1983 г. предприятием Уралтехэнерго была проведена работа по исследованию демонтированных при ремонтах дефектных гибов с целью определения достоверности контроля и выявляемости методом УЗК дефектов различной формы и ориентации. Установлено, что лучше выявляются дефекты типа углового отражателя, т.е. трещины и другие плоскостные дефекты, например, рисы, длинные задиры, закаты; объемные дефекты  выявляются значительно хуже. Так, выявляемость язв, питингов составляет  до 40%, ножевой коррозии, борозд – от 60 до 75 %, трещин – до 90%. Таким образом, выявляемость начального процесса растрескивания (стадия образования цепочек язв, являющихся местом зарождения и развития трещин)  низкая, что не удовлетворяет идеологии контроля в соответствии с РД 34.17.417, где предусмотрены «контрольные группы» гибов, по состоянию которых оцениваются другие гибы на данном объекте. Для возможности выявления трещин в гибах на стадии их зарождения был ужесточен уровень браковки. Это привело к тому, что рисы на внутренней поверхности труб,  допустимые по действующим в трубной промышленности ТУ, очень часто браковались при проведении входного контроля труб (гибов) на предприятиях Минэнерго. При этом еще и обострилась проблема идентификации рис и трещин на внутренней поверхности гибов.
Существенным недостатком рассмотренных выше нормативных документов по УЗК гибов является то, что оценка качества гибов труб производится только по амплитудному признаку (эхо-сигнал от дефекта больше или меньше эхо-сигнала от зарубки), без  определения размеров дефектного поля и высоты трещин. Последнее имеет очень важное значение, так как в настоящее время на базе механики разрушений в практику вошли расчеты допустимости эксплуатации трубопроводов, а также другого оборудования с трещинами на внутренней поверхности в зависимости от измеренной высоты трещин. Естественно, что эксплуатация такого оборудования с трещинами на внутренней поверхности возможна только при наличии аппаратуры, позволяющей контролировать процесс развития трещин и при этом измерять их размеры (в первую очередь высоту) с точностью, достаточной для поверочных расчетов.
Еще одним ярким примером дефектов, расположенных в подповерхностных слоях изделий, являются поднаплавочные трещины в плакированных трубопроводах и корпусном оборудовании АЭС .  Эти трещины зарождаются на границе раздела антикоррозионной наплавки с основным металлом  оборудования или перлитной частью сварных швов и идут перпендикулярно к границе раздела в перлитный металл. Актуальна также проблема идентификации  поднаплавочных трещин, т. к.  в корне сварного шва могут находиться  также и  другие дефекты - непровары, несплавления, шлаковые включения (рис. 1). Измерение высоты поднаплавочных трещин является важнейшей задачей, позволяющей принимать обоснованные решения о ремонте оборудования или его дальнейшей эксплуатации при условии наблюдения за выявленной трещиной.

                           

Рис. 1. Поднаплавочная трещина и непровар в корне перлитной части сварного шва плакированного трубопровода Ду 800 мм  (макрошлифы).

Задачу измерения глубины трещин в сварных швах или основном металле можно решить путем применения волн дифракции, возникающих от краев трещины. Исследования [1-3] показали, что волны дифракции можно возбуждать, а затем и принимать, используя продольные и поперечные волны, а также  их комбинацию. Попытки измерения высоты продольных трещин на внутренней поверхности труб ультразвуковым методом в ручном варианте  с применением выпускаемой  в то время аппаратуры предпринимались еще в 80-90 годах прошлого века. Место расположения дефекта определялось в соответствии с действующим в отрасли НД (например, в трубах – по инструкции И №23 СД-80), затем место расположения дефекта прозвучивлось по так называемой «дельта-схеме»  [3]  с применением серийных ПЭП - двумя наклонными преобразователями либо наклонными и прямыми и выявлялся максимум эхо-сигнала от дефекта за счет возбуждения и приема волн дифракции от вершины трещины. Вначале выявлялся донный сигнал, затем вершина трещины. Для контроля  и измерения использовались различные дефектоскопы, в т.ч. УД2-12. Для возбуждения и приема волн дифракции при применении дефектоскопов УД2-12 необходимо было установливать высокие уровни излучаемого сигнала и усиления, что, в свою очередь, предъявляло жесткие требования к преобразователям.  Для настройки чувствительности и скорости развертки использовались образцы, изготовленные из трубы с такими же типоразмерами и той же маркой стали, что и контролируемая труба. В образце делались пропилы тонкой фрезой треугольного профиля. Для тарировки изготавливалось несколько образцов с пропилами разной глубины. Определение высоты трещины производится двумя путями – графическим – по построению схемы прозвучивания или по графику, построенному по результатам прозвучивания образцов с пропилами различной глубины. Таким образом, измерение высоты трещин с помощью дефектоскопов общего назначения и серийных ПЭП имеет целый ряд ограничений, в частности описанным способом можно  более-менее достоверно измерять высоту трещин до 10 мм.

        
В настоящее время для решения задач поиска дефектов и измерения их размеров во многих отраслях промышленности широкое применение получила технология TOFD, представляющая собой группу дифракционно-временных методов, используемых для оценки дефектов – в особенности трещин, расположенных как в приповерхносных слоях, так и в сечении изделий.
Рассмотрим принцип дифракционно-временного метода. На рис. 2 видно, что при  обнаружении внутренней трещины, принимаются четыре сигнала. Два из них – сигнал головной волны и донный эхо-сигнал присутствуют даже без обнаружения дефектов и ограничивают зону контроля. При обнаружении трещины мы можем наблюдать один или два дополнительных сигнала, дифрагированных от вершин трещины. Позиции этих сигналов по отношению к «базовой» паре сигналов, т. е.   их время распространения (Time Of Flight) дает нам информацию о высоте трещины. Зависимость между высотой трещины и разностями времен прихода сигналов является нелинейной, и производить такие расчеты вручную крайне сложно, поэтому эта функция обычно реализуется  в программном обеспечении TOFD-систем.
Одним из существенных преимуществ TOFD является его большая достоверности по сравнению с обычным УЗК и радиографией. При помощи обычного УЗК плоскостные дефекты типа трещин в сечении изделия могут быть надежно обнаружены только если они перпендикулярны направлению прозвучивания (или имеют незначительные отклонения от этого направления).  Трещины,  развивающиеся от поверхности изделия и образующие с ней угол 900  (угловой отражатель), выявляются несколько хуже, а в случае отклонения плоскости трещины от этого угла более, чем на
100 , практически не выявляются (кроме случаев, когда они перпендикулярны направлению прозвучивания). Таким образом, амплитуда эхо-сигнала от трещины имеет сложную угловую зависимость, что существенно снижает выявляемость трещин и их оценку только по амплитудному критерию.
TOFD позволяет обнаружить трещины практически любой ориентации, поскольку дифрагированный сигнал переизлучается во всех направлениях и поэтому может быть принят вторым датчиком, независимо от ориентации трещины (рис. 3).

Еще одно преимущество TOFD – это производительность  контроля. Дело в том, что для TOFD используются специализированные  ПЭП с чрезвычайно широкой диаграммой направленности, что позволяет контролировать все сечение сварного шва, не перемещая ПЭП перпендикулярно шву .  TOFD ПЭП используют продольные  волны, потому что они обладает самой высокой скоростью распространения и самым низким затуханием, а большинство обычных наклонных ПЭП использует поперечные волны. Дефектоскопы с TOFD ПЭП для  обеспечения  необходимого разрешения излучают очень короткий сигнал – в несколько раз короче, чем у обычных наклонных ПЭП. ПЭП TOFD как  правило являются составными и собираются из резонатора и призмы. Обычно используются 3 типа призм: для обеспечения угла  ввода 45°, 60° и 70° в зависимости от задач контроля [4-7].  Сканирование сварного шва сканером TOFD намного быстрее, чем его ручной контроль при обычном УЗК (рис. 4). В результате сокращается   время  контроля, что особенно актуально  в условиях эксплуатационного контроля оборудования и трубопроводов АЭС.

Все эти преимущества технологии TOFD реализованы в TOFD-версиях дефектоскопов для ручного контроля УД3-71 и УД4-76 в комплекте с TOFD сканером и ПЭП (разработка ООО «Промприлад», г. Киев, Украина).       
Рассмотрим  сканер, используемый с этими дефектоскопами (рис. 5).

Он позволяет располагать пару TOFD ПЭП друг против друга на необходимом расстоянии - его можно установить с помощью встроенной  линейки - и перемещать их вдоль и, при необходимости, поперек сварного шва. Сканер оснащен датчиком пути – для записи своего положения во время сканирования. Чтобы подготовить сканер к контролю, нужно установить расстояние между ПЭП для оптимального прозвучивания контролируемой области. Обычно предполагается, что акустические оси пары ПЭП  пересекаются на глубине, равной 2/3 от толщины объекта контроля. Так что расстояние между ПЭП может быть рассчитано по формуле:  , где H – толщина объекта контроля а α – угол ввода ПЭП.

После подготовки сканера производится настройка дефектоскопа. Наиболее важным пунктом здесь является калибровка задержки в призме ПЭП и скорости звука в объекте контроля. В  дефектоскопах УД3-71 и УД4-76  эта процедура полностью автоматизирована. Достаточно установить значение толщины изделия, далее установить сканер на бездефектную часть объекта контроля, застробировать сигнал головной волны и донный сигнал и активировать пункт меню «Измерить», т. е. для настройки дефектоскопа не требуется никаких специальных образцов.
После завершения калибровки можно приступать к сканированию объекта контроля и сбору данных. В процессе контроля получаемые данные визуализируются в реальном времени в одном из трех режимов:
- A-Скан – привычный нам из обычного УЗК;
- TOFD Б-Скан  (иногда его называют TOFD-Скан);
- Комбинация – A+Б-Скан.

В режиме A+Б-Скан меню дефектоскопа скрыто,  но его можно показать  одним нажатием кнопки «Режим».
После окончания сканирования производится анализ собранных данных. Прежде всего, необходимо просмотреть их. Программное обеспечение дефектоскопов позволяет взглянуть на общую картину всех собранных данных в режиме Б-Скан. Также имеется возможность увеличить некоторые интересные части, или прокрутить все данные в увеличенном режиме.
Также перемещая курсор по данным Б-Скана, можно просмотреть А-Сканы, полученные во всех точках вдоль пути сканирования.
На TOFD-Скане мы всегда будем видеть две линейных индикации, соответствующих головной волне и донному сигналу. На рис. 6 представлены характерные TOFD-сканы при  для выявлении различных типов дефектов.
Если линейные индикации, соответствующие головной волне и донному сигналу, не прерываются и дополнительные индикации между ними отсутствуют, то это значит, что никаких дефектов не обнаружено.
Если наблюдается разрыв индикации головной волны и дополнительная индикация под этой точкой, то это значит, что обнаружена трещина, начинающаяся с внешней поверхности.
Если наблюдается разрыв индикации донного сигнала и дополнительная индикация над этой точкой, то это значит, что обнаружена трещина, начинающаяся с донной поверхности.

Если разрывов линейных индикаций не наблюдается, зато имеются две дополнительных индикации одна под другой, то мы обнаружили внутреннюю трещину.
Если же мы видим непрерывные основные индикации и в дополнение видим только одну индикацию между ними, то мы обнаружили не трещину, а некий объемный дефект – непровар, шлаковое включение и т.п.    
И, наконец, если наблюдается разрыв обеих основных индикаций в одной точке, то это означает, что в этот момент был нарушен акустический контакт, по меньшей мере, одного ПЭП. В таком случае необходимо провести повторный контроль этой зоны.
Таким образом, проанализировав весь полученный TOFD-Скан для данного объекта контроля или его участка, мы получаем список обнаруженных дефектов с указанием их типов.
После этого следует провести дефектометрию. Для этого потребуется сделать еще одну калибровку – по записанному Б-Скану. Нужно указать программе УД3-71 или  УД4-76   главный полупериод головной волны. Он в дальнейшем будет использоваться как отправная точка при расчетах высоты трещины. Для этого следует установить курсор внутри индикации соответствующего полупериода и активировать пункт меню «Калибровка». После этого можно проводить измерение высоты трещины. Чтобы сделать это, следует установить курсор измерительного строба на главный полупериод индикации дифрагированного сигнала и активировать пункт меню «Измерить».
Если обнаружена  трещина в сечении, то для измерения ее высоты используются два строба. Первый строб устанавливается на индикацию от верхнего края трещины, а второй строб – на индикацию от нижнего края.
Следующий шаг в дефектометрии – это измерение длины трещины (рис. 7).

По индикациям дефектов на Б-Скане видно, что ни одна из них не является точечной. Все они имеют некоторую протяженность, но длина индикации  не совпадает с фактической длиной дефекта. Индикацию от протяженного дефекта можно разделить на 3 части – центральная соответствует длине дефекта, а два «крыла» «производит» диаграмма направленности ПЭП. И только одна из этих частей – центральная – является информативной и ее необходимо отделить от крыльев.  Для решения этой проблемы в программном обеспечении дефектоскопов УД3-71 и УД4-76 предусмотрен гиперболический строб, состоящий из двух гиперболических курсоров. Здесь используется специальный программный алгоритм, позволяющий накладывать левый и правый курсоры, соответственно, на левое и правое крылья индикации. Таким образом, они ограничивают центральную часть индикации, которая соответствует фактической длине дефекта. Все это делается полностью автоматически.
Но иногда, при низком соотношении сигнал/шум автоматический алгоритм может не совсем правильно определять позиции гиперболических курсоров. В таком случае нужно перейти на ручной режим и визуально совместить курсоры с «крыльями» индикации.
Иногда возникает необходимость сравнить два дефекта, их размеры и координаты. Для этого используются два строба – их размещают на индикациях обнаруженных дефектов, в результате чего дефектоскоп выдает сравнительную таблицу параметров этих дефектов.

Заключение
Использование TOFD версий дефектоскопов УД3-71 и УД4-76 в комплекте с TOFD сканером и ПЭП позволяет:

- сократить время простоя оборудования - для проведения контроля достаточно выполнить только продольное сканирование;
- повысить достоверность и информативность контроля, так как  выявляются и измеряются трещины практически любой ориентации;
- выявлять и измерять размеры дефектов на труднодоступных участках оборудования, что обеспечивается небольшими размерами применяемого TOFD сканера и дефектоскопов;
- принимать обоснованные решения о необходимости замены, ремонта или дальнейшей эксплуатации оборудования, зная  тип и фактические  размеры  (следовательно, и степень  опасности) дефектов, выявленных в процессе контроля;
- экономить средства на необоснованные  ремонты и замены деталей;
- снизить дозовые нагрузки на персонал, выполняющий контроль, заменяя в ряде случаев рентгенографию на TOFD, а также уменьшая время контроля оборудования, находящегося в зоне действия ионизирующего излучения.
- предоставить дефектоскописту богатый набор инструментов для анализа и визуализации данных контроля.

 

 
Оказываем услуги по техническому обслуживанию, ремонту, поверке и калибровке оборудования
20.05.2011 07:58

Компания ООО «НДТ Инжиниринг» оказывает услуги по техническому обслуживанию и ремонту, а также организует поверку и калибровку следующего оборудования:

Подробнее...
 
Журналы учета данных для лабораторий металлов, сварки, диагностики и неразрушающего контроля
20.05.2011 07:24

 Наша компания предлагает электронные версии журнала учета данных  для лабораторий металлов, сварки, диагностики и неразрушающего контроля. 

 

Подробнее...
 
Новинки в семействе твердомеров "AFFRI"
10.02.2011 11:19

Предлагаем вашему вниманию ознакомится с последними новинками оборудования компании "AFFRI"!!!

 

 

 
Подробнее...
 
Наша компания является официальным представителем компании MEIJI TECHNO в Республике Беларусь!!!
08.02.2011 00:00

Мы предлагаем большой выбор микроскопов для различных сфер применения!Посетив наш сайт Вы сможете подобрать оптимальный вариант микроскопа для решения Ваших задач!

Подробнее...
 
ВНИМАНИЮ КЛИЕНТОВ И ПАРТНЕРОВ! НАШ АДРЕС ИЗМЕНЯЕТСЯ!
24.09.2010 09:50

Уважаемые Дамы и Господа!
В связи с расширением  компании ООО «НДТ Инжиниринг» и завершением строительства нового офиса, сообщаем Вам, что наш адрес изменился. С 18 октября 2010 года центральный офис компании располагается по адресу:г.Минск, ул.Мележа 1а, оф.115, Бизнес Центр «Парус».

Подробнее...
 
<< Первая < Предыдущая 1 2 3 Следующая > Последняя >>

Страница 1 из 3

Новинки каталога

Сталкер 75-04, 75-02М Сталкер15-04, 15-02М Приборы предназначены для определения глубины залегания скрытых коммуникаций, мест повреждения изоляции трубопроводов и кабелей, обследования участков местности перед проведением земляных работ
Дефектоскоп УСД-60 Новый универсальный ультразвуковой дефектоскоп позволяющий воспользоваться всем богатством возможностей современной цифровой техники: выводить сигнал в виде А,B -сканов, подключать датчик пути для построения координатной развертки изделия (в специализированных версиях), записывать большой объем данных, автоматически формировать отчеты и протоколы.
Дефектоскоп УСД-50 Новый универсальный ультразвуковой дефектоскоп с цветной TFT матрицей 640х480 и великолепным быстродействием - это наилучший выбор для экспертного контроля. Мощный, легкий и портативный (масса всего 2 кг с аккумулятором), в эргономичном ударопрочном корпусе из ABS пластика, прибор устанавливает новый стандарт для современных цифровых приборов ручного контроля.
Видеоэндоскоп RF System VJ-Advance 3,9мм Универсальный видеоэндоскоп VJ-Advance 3,9мм с полной четырехсторонней артикуляцией
Измеритель шероховатости поверхности DIAVITE Compact Простой и компактный измеритель шероховатости с широкими функциональными возможностями
Thixomet Lite Система анализа изображения для решения основных задач металлографии и материаловедения
Видеоэндоскоп XL Vu VideoProbe Облегченная модель видеоэндоскопа GE Inspection Technologies XL Go VideoProbe без функции измерения.
Лазерный центровщик FIXTURLASER UPADXA Система для центровки Fixturlaser UPADXA обладает всеми возможностями нашей самой современной системы для центровки валов Fixturlaser XA: дружелюбный и анимированный графический интерфейс, беспроводная передача данных, автоматическая регистрация измерительных точек и т.д. Всё это упаковано в компактный дисплейный блок, оснащенный застежками Velcro® для крепления на руке.
тел./факс (+375 17) 335-07-35, 335-08-35, 335-04-35
e-mail: info@ndt.by