+37517 388-10-35
+37517 268-09-37
info@ctms.by
220113, Республика Беларусь, г.Минск, ул.Мележа, д.1а, офис 115
  • Контроль
  • Тестинг
  • Измерения

iNexiv VMA-4540V/4540

iNexiv VMA-4540V/4540

Видеоизмерительная система с iNexiv VMA-4540V/4540 имеет большой диапазон перемещения по осям XYZ и широкое поле зрения. Модель VMA-4540 с возможностью установки контактного датчика - отличное решение для широкого ряда задач в сфере промышленной метрологии.

Система VMA-4540V/4540 предназначена для выполнения высокоточных измерений самых разнообразных объектов. Широкое поле зрения позволяет легко находить измеряемые области и делает работу с системой исключительно удобной. Более широкий диапазон измерений по осям XYZ с более длинными чем когда-либо ранеерабочими расстояниями обеспечивает непревзойденный уровень универсальности при измерении как крупных, так и высоких механических деталей и неровных поверхностей.


Основные характеристики

  • Легкость и точность измерений, оптимизированная для трехмерных деталей
    Для создания доступной автоматизированной измерительной системы специалисты Nikon использовали самые передовые цифровые технологии компании. Конструкция системы iNEXIV VMA-4540 оптимизирована для простоты использования и обеспечения достоверных и точных измерений трехмерных деталей.
  • Большое рабочее расстояние
    Новая оптическая система обладает сверхдлинным рабочим расстоянием в 73,5 мм. Это обеспечивает достаточный зазор для измерений по оси Z даже при больших увеличениях.
  • Высокоскоростная точная лазерная автофокусировка (опция)
    Помимо стандартной системы автофокусировки Vision AF в наличии имеется дополнительная высокоскоростная система Laser AF с длинным рабочим расстоянием в 63 мм. Она обеспечивает быструю фокусировку и измерение по оси Z независимо от оптического увеличения.
  • Контактные зонды / Автономное программирование 3D CAD (опция) 
    Оборудование iNEXIV VMA-4540 совместно с контактной системой измерения с помощью датчика Renishaw TP20/TP200 обладает дополнительными возможностями измерения трехмерных деталей. Кроме этого, новая автономная программа 3D CAD для моделирования трехмерных измерений значительно упрощает программирование измерений, выполняемых контактным датчиком.
  • Комплексное программное обеспечение для автоизмерений
    VMA AutoMeasure является специализированным метрологическим программным обеспечением для серии NEXIV VMR. Обладает различными функциями для легкого выполнения задач - от установки, работы с обучающими программами и измерениями до оценки результатов.
  • Программа «сшивки» изображения EDF/Stitching и программа для инспекции множества точек (Point Cloud Inspection) (опция)
    iNEXIV VMA-4540 выполняет захват совмещенных изображений с увеличенной глубиной резкости. Опциональное ПО EDF/Stitching Express позволяет последовательно архивировать цифровое изображение и получать данные множества точек для последующего анализа с помощью ПО 3D CAD Inspection / Reverse Engineering.

Высокая точность

За счет использования алюминиевых сплавов в конструкции системы, продольные наклоны и отклонения от направления, вызванные изменениями температуры, были сведены к минимуму. В сочетании с высокой точностью предметного стола системы повышается точность и количество произведённых измерений.

Стол для микроскопа и компьютер для обработки измерений поставляются в качестве опции.

Новая оптика с объективом Apochromat LWD

Компанией Nikon была разработана новая оптическая система, охватывающая малые увеличения, которая работает при большом рабочем расстоянии и подходит для трехмерных измерений элементов. Апохроматический объектив с числовой апертурой 0.11 обладает низким уровнем искажений (меньше 0.1%) который обеспечивает длинное рабочее расстояние 73,5 мм на всём диапазоне увеличения. Более того, усовершенствование светодиодной подсветки повышает контрастность изображения.

10X увеличение с широким полем зрения

VMA-4540 поставляется со стандартной пятиступенчатой 10-ти кратной оптической системой, которая обеспечивает превосходное разрешение при большом увеличении, а также широкое поле обзора при малом увеличении. Увеличенная точность позиционирования достигается за счет устранения зазора в механизме масштабирования при использовании пятиступенчатой трансфокации, и делает ее идеальной для выполнения измерений.

Сопоставление коэффициента увеличения с полем зрения (мм)

 Уровень масштабирования  1    2    3        4  5
Оптическое увеличение 0,35x 0.6x 1x 1.8x 3.5x
Общее увеличение 12.6x 21.6x 36x 64.8x 126x
Поле зрения (мм) 13.3 x 10 7,8 x 5,8 4,7 x 3,5 2,6 x 1,9 1,33 x 1


Приведённые коэффициенты увеличения соответствуют изображению на 24-дюймовом мониторе с установленным разрешением WUXGA (1920х1200).

type9-1type9-2type9-3type9-4type9-5

 0,35x                    0.6х                    1x                       1.8х                      3.5х


Высокоинтенсивный белый светодиодный источник освещения

В системе VMA-4540 применяется белый светодиодный источник света для эпископического и диаскопического и 8-ми сегментной кольцевой подсветки. Светодиоды высокой яркости имеют постоянную цветовую температуру и уменьшенное мерцание, благодаря чему обеспечивается большая точность измерений, в частности, при работе с цветными изображениями. Высокая скорость отклика светодиодов на изменение яркости освещения повышает производительность измерительных операций.

Восьмисегментная кольцевая светодиодная подсветка

Эта система освещения может управляться в восьми различных направлениях. Белый светодиод при среднем угле освещения 18° позволяет наблюдать объекты с крайне низкой контрастностью по краю, которые, как правило, не видны под эпископическим освещением. Такая система освещения эффективна для измерения формы и других трёхмерных объектов.


 inexiv-vma-2520-5_s

Эпископическое и диаскопическое освещение

Обе системы освещения используют источник освещения на основе белых светодиодов, которые обеспечивают высокую интенсивность света, близкую к галогеновым лампам. Для эпископического освещения, в котором ранее не применялись белые светодиодные источники, система VMA-4540 впервые в использует фасеточный интегратор, благодаря которому обеспечивается достаточное значение числовой апертуры и равномерное освещение по всему полю обзора. В диаскопическом освещении матрица белых светодиодов используется в качестве системы фоновой подсветки.


type9verkhnii_svet   type9-кольцевой слева    type9-кольцевой сбоку    type9-кольцевой сбоку

Верхний свет   Кольцевой слева  Кольцевой сбоку   Кольцевой справа


Высокоскоростная и высокоточная автофокусировка Vision AF

Благодаря внедрению нового алгоритма и применению ПЗС-камеры с прогрессивной развёрткой, были повышены скорость и точность системы Vision AF, характеристики которой теперь приближаются к характеристикам системы лазерной автофокусировки через объектив. Система Vision AF удобна в тех случаях, когда нельзя использовать лазерную автофокусировку через объектив, например, при необходимости фокусировки на закруглённых кромках или кромках с фасками.

Бесконтактные измерения с использованием визуальной автофокусировки не вызывают повреждения или деформации деталей, а значит не требует стопора.

Система Multiple-Vision AF позволяет производить одновременное измерение в нескольких точках в пределах одного поля зрения, расположенных на разной высоте.

nexiv-vmr-1515-2 фокусировка на поверхности nexivvmr15153_fokusirrovka_na_grinitse

Фокусировка на поверхности   Фокусировка на границе 

Оптически независимая лазерная автофокусировка (опция)

Помимо стандартной визуальной автофокусировки дополнительно может использоваться высокоскоростная лазерная автофокусировка, которая обеспечивает большое рабочее расстояние 63 мм. Для лазерной автофокусировки в VMA-4540 применяется бесконтактный датчик, который использует красный полупроводниковый лазер и позволяет измерять высоту с субмикронным разрешением. Лазерная автофокусировка обеспечивает быструю и высокоточную фокусировку на поверхности исследуемого объекта независимо от оптического увеличения, делая измерения высоты образца предельно простыми.

Дополнительное увеличение 1.5x (опция)

Каждая модель может быть укомплектована модулем дополнительного увеличения 1.5x, необходимым для точного измерения электронных частей.

Перемещение по XYZ 450×400×200 мм
Диапазон измерения с контактными датчиками c TP и MCR20 400×400×166 мм (TP20)
400×400×170 мм (TP200)
450×400×200 мм (Vision AF)
325×400×166 мм (TP20)
325×400×170 мм (TP200)
375×400×200 мм (Vision AF)
Минимальный шаг считывания 0.1 мкм
Максимальные вес образца 40 кг
Точность (L: длина в мм) при температуре 20°С±0.5K

XY MPE E1: 2+6L/1000 мкм (c Vision AF)  

XY MPE E2: 3+6L/1000 мкм (c Vision AF) 

Z MPE E1: 3+L/100 мкм (c лазерной AF или контактным датчиком)

Повторяемость (2Ϭ) 1 мкм
Камера Ч/б ПЗС 1/3” с прогрессивным сканированием, 
цветная ПЗС 1/3” (опция)
Рабочее расстояние 73.5 мм (63 мм для лазерной автофокусировки)
Увеличение 0.35 ~ 3.5× (0.52 ~ 5.2× с модулем 1.5х)
Поле зрения 13.3 х 10 ~ 1.33 х 1 мм (8.9 x 6.7 ~ 0.89 x 0.67 мм с модулем 1.5х)
Автофокус Визуальная автофокусировка Vision AF
Лазерная автофокусировка Laser AF (опция)
Осветители Светодиодный осветитель контура (снизу)
Светодиодный осветитель поверхности (сверху)
Светодиодный 8-сегментный кольцевой осветитель косого пучка
Видеоразрешение 640х480 пикселей
Контактный датчик (опция) Renishaw TP200/TP20
Требования к питающей сети AC 100-240В±10% 50 или 60 Гц
Потребление по току 5A – 2.5A
Рабочие условия Температура: от 10°С до 35°С
Влажность: 70% или менее
Размеры и вес Основной корпус со столом (опция): 650×700×1557 мм/110 кг
Контроллер: 145×400×390 мм/14 кг
Процессор Intel Core2 Duo или лучше
Память 4 Гб или более
Операционная система Windows 7 32bit
Интерфейс USB2.0/IEEE1394